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  開爾文探針

 開爾文探針

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

開爾文探針的特點

在半導體和導電樣品中全新技術的開爾文探針

環境空氣條件下測試(具有不同溫度、濕度真空監測)

具有非常高的精度和準確度

信號非常穩定

可實現遠程技術服務支持

 

 

 

 

應用

   CPD測量(頂尖參考標準的功函數)             (通過黃金網紋的可見光)

   表面光電壓測量(兼容同品牌的照射器與單色器模塊)

   腐蝕測量

   吸附/解吸和表面電壓的研究    

   活性催化的研究

 

 

 

開爾文探針技術規格:

電壓范圍:-5V5V

數據采集:16-bit ADC module

測試精度:0.1mev                               (靜電屏蔽環境干擾的保護)

樣品架:X-Y stage

Z 端:  5um resolution laser positioning

金網:  (Φ 2 mm mesh) – light „see through”

 

 

 

軟件部分:

 

       
   
 
 

 

 

 

 

 

 

 

 

(銳鈦礦在黑暗中的腐蝕性)                           CPD值的鑒定

                                                   黃金網紋和樣品在不同距離

                                                    非常明顯的5 pA的寄生電流

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

                                                  光照下的銳鈦礦在黑暗中的腐蝕


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